一六仪器,镀层测厚仪

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。拥有****的技术，****的良将，x 射线镀层测厚仪，能够应付各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎来电咨询！

膜厚测试仪的预热 ：关机超过3个小时开机必做。点击“波数”，镀层测厚仪，将波谱校准片放入仪器，将Ag部分移至十字线中间，镭射聚焦，设定测量时间为6S重复测量次数为30~50次，电镀层测厚仪，点击Go键，等待自动连续测量完成。

膜厚仪的影响因素有哪些

1、基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，镀层测厚仪，测量就不受基体金属厚度的影响。

2、边缘效应

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

3、曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地*。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

4、试件的变形

测量头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。