SR-LEDW-5N 分光辐射亮度计 TOPCON拓普康
TOPCON拓普康分光辐射亮度计SR-LEDW-5N;
对应超高对比度
产品概述：
本产品量程****为宽广，可测亮度低至0.0005cd/m²,可用于评价体现黑画面品质的超高对比度；可测亮度高达5,000,000cd/m²,适用于评价超高亮度级LED的光学特性，是目前行业内的产品，同时也是拓普康SR系列产品中的旗舰机型。通过搭载的FIX模式，实现了测定条件的自动化功能，从而大幅缩短了测定同一样品时的连续测定时间。
本产品，不仅仅可应用于目前在市场上急剧扩张的LED背光模组的设计与研发，同样适用于生产流水线上的****率、*管理。
特点：
●量程特别宽广，宽至0.0005～5,000,000cd/m²。
●搭载FIX模式，可大幅缩短生产线上的连续测定时间(和本公司原有产品比较，可缩短1/2时间)。
●提升了灵敏度的均衡性能，从而能轻松测定LED芯片。
●装上照度接口（选配件）后，还能够测定照度（lx）。
●光谱波宽、半波宽5nm。
用途：
●LED背光、LED照明器具的亮度・色度，以及色温度特性，显色性评价。
●LCD、OLED等，显示器的亮度・色度，色温度特性等所有光学特性评价指标。
●车载头灯、尾灯等、LED照明器具的亮度・色度的*测定。
●作为光学特性评价探头，搭载于各类自动测量机台上。
规格：
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光亮采集 |
电子冷却型线性阵列传感器 |
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波长分散原理 |
衍射光栅 |
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光学系统 |
对物镜 : f= 82mm F2.5, 目镜 : 观测视野 5° |
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测定角 |
2°/1°/0.2°/0.1° selectable (电动切换式) |
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测定距离 |
350mm - ∞ (从物镜金属件前开始的距离) |
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光谱波宽 |
5nm *半波宽 |
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波长精度 |
±0.3nm *Hg 光谱线上 |
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测定波长范围 |
380 - 780nm |
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波长分解 |
1nm |
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测定模式 |
自动/手动(积分时间/频率) / 外部垂直同步信号输入 |
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测定内容 |
分光辐射亮度 : W･sr-1･m-2･nm-1 |
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演算内容 |
辐射亮度 Le : W･sr-1･m-2, 亮度 Lv : cd･m-2, |
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亮度测定范围(*1)(*2) |
2.0°: 0.0005 - 1,500,000, 1.0°: 0.0015 - 4,500,000 |
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亮度精度(*1) |
±2% 以内 |
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色度精度(*1) |
±0.002 |
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重复精度: 亮度(*3) |
1.5% : 0.0005 - 0.005cd/m² |
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重复精度: 色度(*4) |
0.005 : 0.0005 - 0.005cd/m² |
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偏光特性 |
亮度 1％ 以下, 分光辐射亮度 2％ 以下 (400 - 780nm) |
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测定时间(*5) |
NORMAL 模式: 约 1 - 248秒, HIGH SPEED 模式: 约 1 - 17秒 |
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界面 |
USB2.0/RS-232C |
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电源 |
*AC电源适配器 AC100V-240V, 50/60Hz, DC12V36W |
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功率 |
about 36W |
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使用条件 |
温度: 5 - 30℃, 湿度: 80%RH 以下 (且无凝露) |
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外形尺寸 (W×D×H) |
150×406×239mm |
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质量 |
5.5kg |
