检查发光数码管的好坏
先将万用表置R×10k或R×l00k挡,然后将红表笔与数码管(以共阴数码管为例)的“地”引出端相连,黑表笔依次接数码管其他引出端,七段均应分别发光,否则说明数码管损坏。
.判别结型场效应管的电****
将万用表置于R×1k挡,用黑表笔接触假定为栅****G的管脚,然后用红表笔分别接触另外两个管脚,电子元件回收公司,若阻值均比较小(5~10 Ω),再将红、黑表笔交换测量一次。如阻值均大(∞),说明都是反向电阻(PN结反向),大批量电子元件回收,属N沟道管,且黑表笔接触的管脚为栅****G,并说明原先假定是正确的。若再次测量的阻值均很小,说明是正向电阻,属于P沟道场效应管,黑表笔所接的也是栅****G。若不出现上述情况,常年电子元件回收,可以调换红、黑表笔,按上述方法进行测试,直至判断出栅****为止。一般结型场效应管的源****与漏****在制造时是对称的,所以,当栅****G确定以后,对于源****S、漏****D不一定要判别,因为这两个****可以互换使用。源****与漏****之间的电阻为几千欧。
做分布曲线
工具为万用表或电桥。
方法是从一批供货器件里,随机抽取几十个,越多越好啦,一般****少不要少于20个,然后用万用表随机测试任二管脚之间的阻*,或者用电桥测任二管脚之间的电容,总之选个好测的参数,将多个器件的该参数做成分布图。分布特性如曲线①特征的为新器件,如曲线②特征的则*怀疑为翻新器件。此为定性测量。一般新器件的参数一致性会非常好。如果分布曲线里出现两个如曲线①特征的波峰,则可能是两个批次的器件,两个批次的时间差距较大。
测试IV曲线
工具:IV曲线测试仪,电路板及元器件故障检测分析仪(T40-II)
方法是从一批供货器件里,上海电子元件回收,随机抽取一些,数量几个到几十个均可,如果有确定的正1品新器件做参照物的话,抽样数量也可以很少(抽测样品1-2个都是可以的)。将怀疑器件的IV曲线与正1品样品的曲线做对比,重合的就是新器件,不重合的则可能是旧器件翻新来的。