菲希尔X射线元素测厚仪XULM系列
菲希尔X射线元素测厚仪XULM系列产品属于多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层(如50nm Au或100um Sn)都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例*接收到。微聚焦34(0.05*0.05-Φ0.3)
我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪,金镍厚度测量仪,孔铜测厚仪,面铜测厚仪,涂镀层测厚仪,台式涂层镀层测厚仪,铜箔测厚仪,绿油测厚仪,油墨测厚仪,各领域的测厚仪。
菲希尔X射线荧光测厚仪XAN110/120系列
菲希尔X射线荧光测厚仪XAN110/120系列产品专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言,只有一个固定的准直器和固定的滤片,特别适合*分析。XAN 110配备比例*,适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体*,更可以应用于多元素的复杂分析。
菲希尔X射线荧光测厚仪XDV-Vacuum
菲希尔X射线荧光测厚仪XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用****机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室,这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。*的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以**样品位置和测量细小部件。