探针用cut pin
主要使用于半导体检测用及电路板检测用探针(cut pin), 可根据客户要求加工.
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材料 |
电阻率 |
硬度 |
融点 |
密度 |
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μΩ·cm |
Hv |
℃ |
g/mm3 |
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钨 |
5 |
680 |
3410 |
19.3 |
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铼钨 |
8 |
850 |
3410 |
19.3 |
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铍铜 |
12 |
380 |
1066 |
11.8 |
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六元合金 |
31 |
350 |
955 |
15.9 |
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五元合金 |
13 |
300 |
989 |
8.36 |
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银钯合金 |
18 |
400 |
1150 |
10.5 |
探针卡 |
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银钯合金(H) |
12 |
450 |
1050 |
10.5 |
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※上记特性根据加工方法、测定方法、尺寸等会有所变化,以上仅供参考。
产品直径 |
公差 |
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φ0.015~φ0.050mm |
&plun;0.002mm |
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φ0.051~φ0.100mm |
&plun;0.003mm |
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φ0.101~φ0.200mm |
&plun;0.004mm |
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φ0.201~φ1.500mm |
&plun;0.005mm |
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触点探针端部形状 |
产品长度 |
标准公差 |
特殊公差 |
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3~100mm |
&plun;0.2mm |
&plun;0.03mm |
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101~300mm |
&plun;0.5mm |
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301~600mm |
&plun;1.0mm |
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601~2000mm |
&plun;5.0mm |
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