XRF分析仪器是利用X射线无损检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等*关注的元素进行*分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大****了检测效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、*元素检测应用上也十分广泛。

性能特点

****超薄窗*管，指标达到国际****水平
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅*移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增应得到明显的*
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

技术参数

产品型号：EDX 4500H
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

标准配置

****超薄窗*管
SDD硅*移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵

应用领域

合金检测、全元素分析、*元素检测（RoHS、卤素）

仪器技术指标：
1、分析元素范围 ： 从硫（S）到铀（U）
2、测试对象：固体、粉末、液体
3、元素含量分析范围：1ppm—99.99%
4、同时分析元素：几十种元素同时分析
5、任意多个可选择的分析和识别模型
6、相互*的基体效应校正模型
7、多变量非线性回归程序
8、多次测量重复性可达：0.05％ (含量大于96%的样品)
9、工作温度:15℃—30℃
10、工作湿度：≤70%
11、工作电压：220V AC
12、样品腔尺寸：150*150*100mm
13、仪器尺寸：212*258*258mm
14、仪器重量：5kg
15、建议测量时间 10-200S可以调

仪器配置：
1、探测模块：Si-PIN
2、X射线源：40kV、100uA
3、准直器：Ф1mm、Ф2mm和Ф4mm自动切换
4、滤光片：内置Al Ti Cu
5、样品腔：下照式，
6、高清晰、高分辨率的5寸PDA，软件安装在Microsoft Windows CE系统操作灵活简单，很好的支持PDA系统升级和软件升级
7、指示和警告：电源指示灯，辐射警告灯
8、保护系统：上盖打开时，高压自动关闭
9、样品放置：配万向测试支架，随心放置各种样品
10、报告输出：蓝牙打印
11、安全防护箱：400*300*350mm，4.5kg

应用领域
主要应用黄金，铂，银等*和各种首饰的含量检测



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