4191A阻*测试仪1MHZ-1000MHZ
测试材料的阻*Z,导纳Y,电感L,电阻R,介电损耗D ,品质因数
射频阻*计量器具检定系统
Verification Scheme of RF
Impedance Measuring Instruments JJG 2011-87
代替:高频阻*量值传递系统
射频阻*计量器具检定系统
本检定系统适用于射(高)频集总参数阻*计量器具(即检测20kHz-1GHz频段的R,L,C元件和材
料电磁特性所有物仪器设备和量具、标准件),规定了射频(习惯上也称高频)集总参数阻*量的量值
溯源途径、传递程序及计量器具的检定方法。
一、计量基准器具
1、高频集总参数阻*的*计量基准器具是指用于复现和保存20kHz-1000GHz高频阻*量值(包括
电介质材料的复数介电常数和软磁材料的复数导磁率)的计量设备和量具。
2、射(高)频集总参数阻*计量基准器具包括:
2.1空气介质同轴线阻*基准,其阻*量值由同轴线尺寸和材料电磁特性经理论计算求得。它用
校准按反射系数测量原理设计的高频阻*精密测量装置。空气介质同轴线也是微波阻**基准,本检
定系统移用它,有利于射(高)频、微波阻*量值的统一。在(1-1000)MHz频段,其技术指标为:
反射系数模值|г|:1.000&plu*n;0.002; 相角:&plu*n;180°&plu*n;0.5°。
2.2高频阻高频阻*精密测量装置,它是利用从美国引进的HP4191A高频阻*分析仪,经过准确度论
证分析,保证高频集总参数阻*量的以下计量工作性能:
频率:(1-1000)MHz
反射系数模值|г|:1.000&plu*n;(0.003-0.007)
相角θ:&plu*n;180°&plu*n;0.5°;
阻*模值|Z|:1Ω-10kΩ&plu*n;(0.5-10)%
电容C:10pF-100nF&plu*n;(0.2-10)%;
电感L:10nH-100μH&plu*n;(0.2-10)%
损耗:tgδ(D)0.001-0.5&plu*n;<(0.002-0.05)
二、高频集总参数阻*标准
3、集总参数阻*标准包括:
3.1高频阻*标准件50Ω,0Ω,0S。它们由*基准通过直接比对法传递量值,技术特性如下:
50Ω:|г|≤0.0025; 0Ω:残余阻*小于2mΩ; 0S:边缘电容值0.080pF
这些标准件用以校准按电压电流比原理设计的高频阻*分析仪、高频LCR表等通用高频阻*测量仪
器(校准中还需使用直流以和低频阻*标准伯)。并由50Ω阻*件组成模拟损耗件校准Q值、tgδ值等
标准设备
3.2高频、低频阻*分析仪。这些是市售商品高准确度阻*测量仪器,也用作计量标准设备,用以
定标低准确度的阻*标准量具。其技术指标为:
频率:20kHz-1000MHz;
阻*|Z|:1Ω-10kΩ&plu*n;(1-20%);
电容C:10pF-100nF&plu*n;(0.5-20)%;
电感L:10nH-1.00μH&plu*n;(0.5-20)%
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