C*尺寸偏差分析, 产品扫描验证形位公差检测报告

如今的产品越来越考究造型化与多样化，更以特性化来博取消费者欢心，这关于检测工程是****大的应战与负 担，关于着重于造型炫丽产品精度的掌握更是困难重重，由于目前市面上次要的检测任务大多以接触式的量测方式停止检测，有的需*作精细的检具，有些则需设计 治具来*，再以CMM三座标停止量测，运转都相当的繁琐，得预备相当复杂的前置任务。以治具*作爲例，从治具构造设计、产品的夹持固定方式、材质的选 用、加工办法、*校准，然后让量测物的地位与CAD Model可以分歧，再以探针逐个点取各个尺寸，将其填入品检表中，运转起来相当的耗时，而将来追溯检讨质量时，从报表的材料上又难以识别成绩。

C*原义是Computer Aided Verification ，即电脑辅佐验证，次要是将实体成品以逆向工程(3D扫描)的方式，将其做成电脑可以读取的材料格式(Scan Data)，再将Scan Data与原始3D设计图(CAD Data)依检验需求做准确的重疊与对位，进而检查其各局部的尺寸误差，是一种全尺寸比对的方式，普通称之爲全域检验。

集伟科技提供业界****的检测代工效劳,运用世界上比拟好的量测设备,提供****的剖析报告,关于检测后果我们将提供一份完好的检测报告，内容将包括 误差采图剖析，断面尺寸剖析，几何尺寸剖析，若有组装件我们也提供组装误差剖析。另外将附上无偿使用的Viewer 软件，让您可自行检测您所需的地位。

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