LCR测试仪HP4275A惠普HP4275A

二手LCR测试仪惠普HP4275A功能：惠普HP4275A电桥详情：LCR测试仪惠普HP4275A报价：
HP4275A LCR电桥能快速测量电感L、电容C、电阻R、损耗因素D、品质因素Q、电导G、电纳B、电*X和矢量阻*|Z|及相位角θ,
其频率范围从100Hz到100kHz共13个可选频率测试点。
测试电压范围为1mV～5Vrms, 适应于电路设计、产品实验、质量检查多方面测量要求。
这种可变的测试信号为测量非线性阻*元件，如电感和半导体器件带来很大方便。
该仪表测量值用两部分4?数字单元显示，并可以把每10次测量值进行平均后以5?数字显示。另外，它还提供测试元件时的信号
电压和施加电流3位数显示，以便监视测试时的电压、电流情况。
该仪表的电容测试范围为0.01fF～1999.0mF（1毫微微法拉=10-15法法法拉）, 电感为0.001nH～1999.9H, 电阻和阻*为
0.001mΩ～19.999MΩ。所有测量精度为0.1%～10%, 这主要取决于测试信号的电压和频率。
测量电路既可以用并联等效电路形式，也可以是串联等效电路形式。
该仪表自动校准后，能使杂散电容减小到20pF，寄生电感减小到2000nH，电阻减小到0.5Ω,电导减小到5μs。 频率范围:100Hz - 100KHz
文章链接：中国环保在线 http://www.hbzhan*/Tech_news/Detail/310344.html
二手惠普HP4275A LCR测试仪HP4275A电桥
HP4275A HP4275A 4278A技术指标：
4278A测量参数 C-D，Q，ESR，G
4278A测试信号
4278A频率： 1kHz和1MHz±0.02%
信号电平： 0.1~1Vrms,±10%
(C≤20μf),以0.1Vrms步进
测量时间： 6.5ms/10ms/21ms(典型值）
测量范围 测量参数 1kHz 1MHz正常模式

LCR测试仪惠普HP4275A1MHz*
4278A电缆长度补偿 0,1或2m
Agilent 4278A比较器：对电容的10仓室分类，
对D、Q、ESR和G的合格/不合格测试
存储卡插槽 外部存储器的存储卡插槽用
于对控制设置和比较****限进行分类和调用
（存储卡可任选，参见下面的选件004）。
4278A一般技术指标Agilent 4278ALCR测试仪惠普HP4275A价格有让，性能不减
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