技术规格:
CMI243配置包括:
CMI243探针状况:
CMI243的ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计,此单探头可以测量铁质底材上几乎所有金属覆层,例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探针为****小的、形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。
****小凸面半径 | ****小凹面半径 | 工作高度 | ****小测量面积直径 | ****小底材厚度 |
1.2mm |
3.5mm |
100mm |
2.5mm |
0.3mm(12mils) |
操作范围
铁上镀层 | 镀层厚度范围 | 探头 |
Zn | 0-38μm(0-1.5mil) | ECP-M |
Ni | 0-75μm(0-3.0mil | ECP-M |
Cd | 0-38μm(0-1.5mil) | ECP-M |
Cr | 0-38μm(0-1.5mil) | ECP-M |
Cu | 0-10μm(0-0.4mil) | ECP-M |
非磁性/Fe | 0-1270μm(0-50mil) | SMP-1 |