捷扬光电  JFD-2000膜厚检测仪原理

捷扬光电的JFD-2000，是一台非接触式膜厚检测仪，采用光学干涉的原理测量薄膜厚度。

仪器检测原理外部光路结构：

光从光源发出，经过光纤导到反射探头打出，聚焦在在样品上。薄膜上下表面都会产生反射光，如下图所示：

两种反射光由反射探头采集，并由另一根光纤导入到分光结构，进行光谱排列。测量出干涉条纹：测量谱图：通过光谱软件，将样品放置于检测位置，可以得到反射率谱线，如下图所示：

再经过软件内部处理，得到干涉条纹的****大值和****小值。得到****值后再通过厚度公式，即可算出膜层厚度。

捷扬光电 JFD-2000 膜厚检测仪参数

厚度范围：0.5-100 μm

光谱范围：200-1100 nm

精度：0.05 μm 或3%

分辨率：0.001μm

重复性：0.02 μm

重现性：0.05 μm

厚度单位：μm

重量单位：gsm

主控制箱尺寸：300x223x130 mm

主控制箱重量：6 kg

罐体检测箱尺寸：357x458x797 mm

罐体检测箱重量：35 kg

片状支架尺寸：φ200x214 mm

片状支架重量：1.5 kg

电源：220V/50Hz

数据输出：软件保存到数据库或RS232

输出样品尺寸：片状，直径大于10mm

供气：无

捷扬光电  JFD-2000膜厚检测仪 使用说明

捷扬光电出品的JFD-2000是一款非接触式膜厚检测仪，操作简单.

具体操作如下：

1.首先连接电源，打开光源。

2.使用USB线连接仪器主机与电脑。

3.打开软件，确认软件与仪器主机正常连接（如左下角显示未连接光谱仪，则在设备管理器里重新连接仪器）。

4.放入样品，升降探头以调节焦点，调节至能量在5000左右（如果能量太高达到饱和，则调小积分时间，能量太弱则调大积分时间）。

5.关闭光源进行存暗。