EL（Electroluminescence，电致发光）是简单有效的检测隐裂的方法。太阳能组件缺陷隐裂便携式EL检测设备其检测原理如下。

　　电池片的核心部分是半导体PN结，在没有其它激励（例如光照、电压、温度）的条件下，其内部处于一个动态平衡状态，电子和空穴的数量相对保持稳定。

　　如果施加电压，半导体中的内部电场将被削弱，N区的电子将会被推向P区，与P区的空穴复合（也可理解为P区的空穴被推向N区，与N区的电子复合），复合之后以光的形式辅射出去，即电致发光。

　　当被施加正向偏压之后，晶体硅电池就会发光，波长1100nm左右，属于红外波段，肉眼观测不到。因此，在进行EL测试时，需利用CCD相机辅助捉这些光子，然后通过计算机处理后以图像的形式显示出来。

　　给晶硅组件施加电压后，所激发出的电子和空穴复合的数量越多，其发射出的光子也就越多，所测得的EL图像也就越亮；如果有的区域EL图像比较暗，说明该处产生的电子和空穴数量较少（例如图3中电池中部），代表该处存在缺陷（复合中心）；如果有的区域完全是暗的，代表该处没有发生电子和空穴的复合（图3和图4中红线所标处），也或者是所发光被其它障碍所遮挡（图3和图4主栅线处），无法检测到信号。

　　图3：黑心片                                                                                    图4：隐裂片

　　图中中间扭曲是因为组件尺寸太大，图像采用了拼接方式，属于正常现象。

　　图5：正常组件EL图像

　　4、小结

　　1）隐裂有多种，并不是所有的隐裂都会影响电池片的性能；

　　2）在组件生产、运输、安装和维护过程中，考虑到晶硅组件的易裂特征，还需在各工序段和搬运、施工过程中改进和细化作业流程，减小组件隐裂的可能性。

　　3）太阳能组件缺陷隐裂便携式EL检测设备是简单有效的检测隐裂的方法。 

弱光测试 Weak light test

参数配置 Product configuration