布鲁克DektakXT台阶仪

又称探针式表面轮廓仪可以提供更高的重复性和分辨率，测量重复性可以达到5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术，更加巩固了其行业地位。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二管的研发以及材料科学领域。

布鲁克DektakXT台阶仪能实现：

*使用温度条件：10-30℃；湿度：≤80，无冷凝

*无可匹敌的性能，台阶高度重现性低于4埃

*Single-arch设计提供具突破性的扫描稳定性

*“智能电子器件”设立了新低噪音基准

*新硬件配置使数据采集时间缩短40

*64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了10倍

*频率，操作简易

*直观的Vision64用户界面，操作简易

*针尖自动校准系统

*布鲁克（Bruker）以实惠的配置实现高的性能

*单传感器设计，提供单一平面上低作用和宽扫描范围

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