天津良益科技股份有限公司
主营：物理光学仪器、基础物理、近代物理仪器、分析仪器
供应良益LCL-13薄膜测厚仪
面议
中国 天津 津南
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产品属性
- 厚度范围:
- 20nm-50um(只测膜厚），100nm-10um(同时测量膜厚和光学常数n,k）根据薄膜材料的种类，其范围有所不同
- 准确度:
- <1nm或<0.5%
- 重复性:
- 0.1nm
- 波长范围:
- 380nm-1000nm
- 可测层数:
- 1-4层
- 品牌:
- 其他
- 工作原理:
- 激光测厚仪
- 用途:
- 薄膜测厚仪
- 加工定制:
- 是
- 型号:
- LCL-13
- 测量范围:
- 参考说明书
- 显示方式:
- 参考说明书
- 电源电压:
- 参考说明书
- 外形尺寸:
- 参考说明书
- 重量:
- 参考说明书
LCL-13薄膜测厚仪产品介绍
LCL-13型薄膜测厚仪根据多次反射光谱相干原理，本仪器可提供非接触测量薄膜厚度，折射率，吸收系数等；采用 * xin 软件版本，具有纳米级*测量和方便使用等优点；测量方便度和准确度远好于常用光学椭偏仪。是薄膜研究，光学镀膜，和半导体生产不可缺少的测量研究仪器。
主要实验内容
主要配置参数
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