天津良益科技股份有限公司
主营：物理光学仪器、基础物理、近代物理仪器、分析仪器
良益LCL-4A椭圆偏振测厚仪
面议
中国 天津 津南
来电请说明在第一枪看到，谢谢！
产品属性
- 测量范围:
- 1nm-300nm
- 测量 zui 小值:
- ≤1nm
- 入射角:
- 30°-90°误差≤0.1°
- 偏振器方位角读数范围:
- 0°-180°
- 度盘刻度:
- 每格2度
- 品牌:
- 其他
- 加工定制:
- 是
- 型号:
- LCL-4A
- 测量范围:
- 参考说明书
- 测量精度:
- 参考说明书
- 放大率:
- 参考说明书
- 工作温度:
- 参考说明书
- 十字线:
- 参考说明书
- 物镜直径:
- 参考说明书
- 序列号:
- 参考说明书
- 视野:
- 参考说明书
- 长度:
- 参考说明书
- 标准装箱数:
- 参考说明书
- 用途:
- 物理光学实验教学
- 外形尺寸:
- 参考说明书
- 重量:
- 参考说明书
LCL-4A 椭圆偏振测厚仪产品介绍
手动椭圆偏振测厚仪使用消光法测量薄膜厚度和折射率；手动调节测试过程中的起偏和检偏角度。椭圆偏振法广泛地应用于固体基片上介质薄膜的测量。在己有测定薄膜厚度的方法中，它是能测量到 * 薄和精度 * 高的一类。
主要实验内容
主要配置参数
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